單顆粒ICP-MS（SP-ICP-MS）已成為分析各種環(huán)境樣品中納米顆粒（NPs）的重要工具。該方法能夠在單次分析中快速、準確地分析粒徑、顆粒濃度和溶解離子濃度，從而成為跟蹤納米顆粒在自然系統(tǒng)中的行為（溶解和聚合）的首選技術(shù)。然而，納米顆粒在環(huán)境樣品中的溶解和聚合取決于基體，且樣品基體組成和濃度（例如溶解有機質(zhì)（DOM）和離子強度）對其具有極大影響。因此，在分析之前稀釋樣品可能會影響樣品中納米顆粒的狀態(tài)。在SP-ICP-MS中實現(xiàn)精確測量，需要精確地測量輸運效率（TE）、樣品流速以及用于校準儀器和樣品基體的標準品之間的精確基體匹配。

珀金埃爾默使用NexION^®系列 ICP-MS的全基體進樣系統(tǒng)（AMS）進行分析，它可以提供在線地利用氣體對霧室中氣溶膠進行稀釋的功能。這種稀釋機制可以在不影響樣品中納米顆粒的狀態(tài)的情況下降低基體效應(yīng)、消除信號抑制，在無需基體匹配的情況下實現(xiàn)離子和納米顆粒標液的進樣。以下將模擬海水樣品中金納米顆粒的分析，并利用AMS功能避免人為稀釋，并討論儀器配置條件對單顆粒ICP-MS進行精確和準確顆粒分析的影響。

實驗

結(jié)果和討論

結(jié)論

使用珀金埃爾默的NexION^®系列 ICP-MS，證明了SP-ICP-MS精確測量海水（典型的復(fù)雜基體）中納米顆粒粒徑大小和濃度的能力，而無需手工稀釋樣品。這些測量是通過使用全基體進樣系統(tǒng)（AMS）實現(xiàn)的，AMS是一種在線氣溶膠稀釋技術(shù)，可以實現(xiàn)海水類樣品的直接進樣。消除手動稀釋步驟的能力對于納米顆粒測量非常重要，在分析之前稀釋樣品基體可能會影響納米顆粒的狀態(tài)。AMS是對復(fù)雜基體進行SP-ICP-MS分析的重要工具，可以對懸浮液中的納米顆粒直徑和數(shù)量進行準確測量，因此無需考慮用水稀釋導(dǎo)致的納米顆粒狀態(tài)的轉(zhuǎn)化對于測量結(jié)果的影響。