以上所展示的信息由企業(yè)自行提供,內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由發(fā)布企業(yè)負(fù)責(zé),化工儀器網(wǎng)對(duì)此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。
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更新時(shí)間二手安捷倫 ICP-MS 7500 等離子體發(fā)射質(zhì)譜應(yīng)用領(lǐng)域包括:
● 環(huán)境樣品分析,包括自來(lái)水、地表水、地下水、海水以及各種土壤、廢棄物等的分析;
● 半導(dǎo)體材料分析
● 玻璃、陶瓷和礦冶等樣品分析;
● 地質(zhì)學(xué)研究;
● 生物食品及醫(yī)藥臨床研究;
● 核材料分析
● 石油化工樣品分析;
● 法醫(yī)應(yīng)用與研究;
● 與分離技術(shù)聯(lián)用進(jìn)行環(huán)境毒理、生命科學(xué)等領(lǐng)域的元素價(jià)態(tài)、形態(tài)分析成為ICP-MS技術(shù)應(yīng)用的一個(gè)焦點(diǎn)
二手安捷倫 ICP-MS 7500 等離子體發(fā)射質(zhì)譜特性:
● 可快速同時(shí)檢測(cè)周期表上幾乎所有元素
● 較低的檢出限(低至ppq級(jí))
● 分析效益/成本比上佳
● 較寬的線性動(dòng)態(tài)范圍—可直接檢測(cè)從ppq到數(shù)百ppm濃度
● 譜線簡(jiǎn)單、干擾小,準(zhǔn)確度和精密度好
● 需要樣品量很低(ul至ml),分析速度很快(1~3分鐘/樣品)
● 檢測(cè)模式靈活多樣
半導(dǎo)體工業(yè)常用材料中超痕量污染物分析:
固體:Si;GaAa單晶切片;石英、碳化硅等爐材料;高純金屬電極等
Agilent ICP-MS可直接分析有機(jī)樣品:
Agilent ICP-MS的高效能、高功率屏蔽矩冷等離子體技術(shù)已被用于測(cè)定一系列有機(jī)樣品的ppt級(jí)痕量污染元素。
● 對(duì)其中一些樣品,其他方法無(wú)法得到滿意的結(jié)果,高功率屏蔽矩冷等離子體技術(shù)就可以做到
● 強(qiáng)堿性清洗劑——四甲基氫氧化氨(TMAH)等
● 高基體樣品——光刻膠、液晶、BPSG、PSG等揮發(fā)性*的清洗劑
以上所展示的信息由企業(yè)自行提供,內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由發(fā)布企業(yè)負(fù)責(zé),化工儀器網(wǎng)對(duì)此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。
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